从边界访问到存储器自测
可测性 → 边界扫描 → SRAM → 阵列测试与响应
- 适合：
- 希望理解板级测试接口与嵌入式存储器测试分工的学习者
- 学完你能：
- 能解释边界驱动捕获、旁路长度、阵列背景与算法，以及自测时间、覆盖和修复之间的边界。
- 预计：
- 约2–3小时
测试目标与边界访问
必学2 站将可控制和可观察的位置安排到器件边界，区分接口与测试目标。
阵列结构与内建算法
必学2 站从阵列读写进入背景、序列、响应判断和修复边界。
学完之后
可以顺着下面这几条继续。
存储层次与数据供给8 站基础 – 进阶基础–进阶
浏览全部学习路线缓存策略 → SRAM → DRAM → HBM封装 → Flash → 嵌入式存储
从可测性到扫描与 ATPG5 站基础 – 进阶基础–进阶数字逻辑 → 故障目标 → 状态访问 → 扫描与图形生成
从硅到芯片30 站入门 – 进阶入门–进阶材料与器件 → 设计 → 制造 → 封测 → 产业角色 → 产品