放大器压摆与建立过程表征
Amplifier Slew and Settling Characterization
把刺激、输出斜率、误差带和测量链放在同一次动态验证里。
速览
约 1 分钟压摆率和建立时间必须在明确的阶跃、负载和精度下测量。先区分内部充电限制、输出驱动限制与测量链限制,再判定误差何时持续进入要求范围。
系统理解
约 2 分钟小阶跃用于观察线性稳定,大阶跃可能使电流转向并限制电容充放电;两级结构还需检查输出级能否同时提供补偿支路和外部负载电流。压摆的正负方向和工作点都可能改变结果。
建立时间取决于容差、参考终值、观察时窗和刺激质量。测得的长尾可能来自被测器件,也可能来自源、探头或误差放大链,不能只给一个没有测试条件的纳秒值。
复用旧运放页的I/C与两阶段定义;本页补方向不对称、两级电流分配、误差带计算和动态测量误差。
关键参数
| 参数 | 单位 | 含义 |
|---|---|---|
| 阶跃与偏置 | V;s | 输入/输出幅度、共模、方向和重复周期 |
| SR及容差 | V/s;V或1 | 选定线性斜坡窗口的速率与建立误差带 |
| 负载和时间窗 | F;Ω;s | 实际CL、阻性负载及保证不再离带的观察时长 |
常见误区
- 输出第一次经过目标值就是已经建立。
- 正负压摆率一定相等。
- 示波器能看清完整阶跃就能解析任意小的尾部误差。
工程深入
12 条结论 · 2 道例题为ADC驱动和精密模拟链确认动态误差预算,避免用单一带宽或SR数字替代真实采样前的建立验证。
刺激与工作边界
电流预算与分段响应
维持补偿压摆还需支付外部负载的充电电流
若补偿电容要求输出以r变化,外部CL同时需要CLr电流;输出级还要满足补偿支路和自身偏置的电流关系。仅用输入尾电流除Cc得到的速率,在输出级供电不足时无法维持。34
- 仅外部电容所需的充放电电流单位 A
- 外部负载电容单位 F
- 所需输出斜率单位 V/s
成立条件 电容近似恒定且r表示相应时段的输出斜率;列具体节点KCL,不把不同支路电流重复相加
例题:动手算一次教学假设,可复算
教学设补偿支路允许r=10.0V/μs,CL=20.0pF。求仅负载电流;若该方向实际只能给CL净100μA,负载限定斜率是多少?
已知
- r=10⁷V/s,CL=20.0×10⁻¹²F
- 净负载充电电流100×10⁻⁶A;已扣除其他支路
步骤
- IL = 20.0×10⁻¹²×10⁷ = 200 μA外部电容也要同时充电。
- rLoad = 100×10⁻⁶/(20.0×10⁻¹²) = 5.00×10⁶ V/s可用净电流只能维持5.00V/μs。
补偿支路允许10V/μs不代表输出端能实现。
适用边界 教学净电流已明确扣除偏置和补偿分流,不是直接使用供电总电流。
压摆结束的时刻取决于线性度要求而非固定开关点
输入对从完全转向逐渐恢复双支路导通,压摆与线性稳定之间没有对所有精度都适用的瞬间分界。用一段理想斜坡加一段指数估算总时间时,必须说明何种残余非线性或输入误差作为交接条件。3
成立条件 分段模型用于估算而非精确波形替代;接近精度边界时用实际瞬态误差验证
内部节点过驱动恢复可留下主斜坡之后的慢尾
主输出停止恒斜坡不表示所有内部节点已回到工作点。压摆期间内部节点可能积累过大的电压偏移,之后的恢复会继续限制建立;只从宏观输出斜率推算时间会漏掉这段恢复。3
成立条件 在电路仿真中同时查看关键内部节点及器件工作区;不把每一种慢尾唯一归因于同一个机制
误差带与参考终值
窄精度要求增加单指数尾部所需时间
若线性尾部在给定参考点后满足e(t)=e0 exp(−t/τ),进入绝对容限δ需t=τ ln(|e0|/δ)。这只计算该尾部,从输入边沿起计时还需包含先前延迟、压摆与恢复;多极点振铃不能按此式直接签核。13
- 从尾部模型起点到容差的时间单位 s
- 尾部指数时间常数单位 s
- 尾部起点误差及允许绝对误差单位 V
成立条件 0<δ<|e0|且尾部可用单指数描述;e0与δ使用相同电压或相同归一化尺度
例题:动手算一次教学假设,可复算
教学设线性尾部τ=20.0ns、e0=1.00V,求1%与0.1%误差带的尾部时间。
已知
- τ=20.0ns,e0=1.00V
- δ分别为0.0100V与0.00100V
步骤
- t1 = 20.0 ln(100) = 92.1 ns1%时误差比100。
- t2 = 20.0 ln(1000) = 138 ns0.1%时误差比1000。
- t2−t1 = 20.0 ln(10) = 46.1 ns窄十倍容差增加2.303个时间常数。
不注明容差的建立时间没有可比性。
适用边界 仅单指数教学尾部,不含先前压摆或恢复,不是总建立时间。
测量链与长期尾部
残差测量扩大动态范围但引入配比与时序要求
把输入按理想闭环比例与输出相减,可放大观察小残差,不必让示波器同时解析整个阶跃和微小误差。减法电阻配比、两通道时序、残差链带宽和钳位恢复也进入结果,需先校准而非把残差全部算给DUT。5
成立条件 输入与输出缩放及极性与目标闭环一致;区分残差DC偏差与时间变化部分
短时精密建立不排除随后出现热尾
快速电学响应之后,芯片内部功耗重分布可造成温度梯度与失配漂移,形成更长时间尺度的尾部。若应用在阶跃后长时间保持并持续采样,应检查长期最终值;短时局部误差带不能自动替代这一要求。5
成立条件 热尾是一种候选机制,不凭波形形状唯一认定;区分短时采样需求与长平台保持需求
出处
5 份资料 · 20 处引用- 1
CMOS模拟集成电路设计(第3版)
- §6.6 图6.6-14及动态测量说明,印269,PDF279 支持:动态测试条件必须包含输入和输出实际工作轨迹
- §6.6 图6.6-14,印269,PDF279 支持:阶跃幅度扫描能检验是否真正进入压摆限制;第一次进入误差带不是建立完成
- §6.6 图6.6-14线性响应与建立容限,印269,PDF279 支持:窄精度要求增加单指数尾部所需时间
- 2
How to Measure Amplifier Slew Rate
- Separate Stimulus Limits、Amplifier Slew Rate Measurement Solution,官方HTML无页码 支持:动态测试条件必须包含输入和输出实际工作轨迹
- Separate Stimulus Limits、Measurement Solution,官方HTML无页码 支持:刺激平顶与测量链恢复需要优于目标误差
- 3
模拟CMOS集成电路设计
- §9.9 图9.68–9.72,印349–351,PDF374–376 支持:阶跃幅度扫描能检验是否真正进入压摆限制
- §10.6 图10.38–10.39,印387–388,PDF412–413 支持:正负压摆需要各自的电流路径解释
- §10.6 例10.8、图10.39,印388,PDF413 支持:维持补偿压摆还需支付外部负载的充电电流
- §9.9 例9.23、式9.68–9.71,印354–355,PDF379–380 支持:压摆结束的时刻取决于线性度要求而非固定开关点
- §9.9 图9.76–9.77,印354,PDF379 支持:内部节点过驱动恢复可留下主斜坡之后的慢尾
- §11.6.3 图11.57–11.59,印450–451,PDF475–476 支持:建立误差带先确定相对哪一个终值
- §9.9 式9.61、§11.6.3建立容差,印350、450–451,PDF375、475–476 支持:窄精度要求增加单指数尾部所需时间
- 4
Lecture 22 – Compensation of Op Amps
- CMOS OP AMP SLEW RATE,原作者讲义PDF第31页/页标22-31,SR正负双限流式 支持:正负压摆需要各自的电流路径解释
- CMOS OP AMP SLEW RATE,原作者讲义PDF第31页/页标22-31,Ilim=C dvC/dt及SR正负双限流式 支持:维持补偿压摆还需支付外部负载的充电电流
- 5
Ask the Applications Engineer—18: Settling Time
- Another techniques与short/long term settling问答,官方HTML无页码 支持:建立误差带先确定相对哪一个终值
- Why do data sheets sometimes define short term and long term settling characteristics?,官方HTML无页码 支持:第一次进入误差带不是建立完成
- How is settling time measured?及误差放大器钳位说明,官方HTML无页码 支持:刺激平顶与测量链恢复需要优于目标误差
- How is settling time measured?误差求和节点及Another techniques数字相减,官方HTML无页码 支持:残差测量扩大动态范围但引入配比与时序要求
- short term and long term settling问答、thermal tails段,官方HTML无页码 支持:短时精密建立不排除随后出现热尾
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