Temperature-Conscious Test Scheduling Strategies for 3D Integrated Circuits
Hsiu-Wei Chen; Sz-Chi Ting; Liang-Ying Su; Shih-Hsu Huang
本站引用的位置9 处，涉及 2 个知识点
§3.1，式(1)，文章页码第4页（共21页）
§3.2.1，式(2)，文章页码第5页（共21页）
§3.2.3，式(3)–(4)，文章页码第6页（共21页）
§3.3，式(6)–(7)，文章页码第7页（共21页）
§3.4，式(9)–(11)，文章页码第8页（共21页）
§3.4，式(10)–(11)，文章页码第8页（共21页）
§4.1，图3，文章页码第8页（共21页）
§4.2.1，式(12)，文章页码第9页（共21页）
§4.2.2，式(13)–(15)，文章页码第10页（共21页）