Stability of Amorphous Silicon Thin Film Transistors and Circuits
Ting Liu
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§2.1.1–2.1.2,图2.1–2.4,第 8–12 页
§2.1.2 Mobility gap,第 13 页
§2.1.2–2.1.3,图2.3、2.5,第 10–14 页
§2.1.2,第 10–12 页
§2.1.2,图2.3,第 10–13 页
§2.1.3,式(2.4),第 14 页
§2.1.3,图2.5,第 13–14 页
§2.1.4,图2.6–2.7,第 14–17 页
§2.2、2.2.2,第 17、19–21 页
§2.2.1,图2.8,第 17–18 页
§2.2.1,图2.8,第 18–19 页
§2.2.2–2.2.3,式(2.12)–(2.14)、图2.12,第 21–23 页
§2.2.2,图2.10、式(2.10)–(2.12),第 19–21 页
§2.2.2,图2.10、式(2.12),第 20–21 页
§2.2.3,图2.11(b),第 22 页
Abstract,§2.2.3/PDF32–33,第 22–23 页