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半导体开放世界
厂商技术资料

MT-013: Evaluating High Speed DAC Performance

Walt Kester

类型
厂商技术资料
作者
Walt Kester
出版
Analog Devices · 2008
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  1. MT-013 Rev.A 10/08，印刷 pp.1–2，图1–2

  2. MT-013 Rev.A 10/08，印刷 pp.3，图3

  3. MT-013 Rev.A 10/08，印刷 pp.3，图3、Glitch Impulse Area

  4. MT-013 Rev.A 10/08，印刷 pp.4–5，Oscilloscope Measurement of Settling Time and Glitch Impulse Area

  5. MT-013 Rev.A 10/08，印刷 pp.5，I/V接口测试说明