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半导体开放世界
论文

Full-Speed Testing of A/D Converters

J. Doernberg; H.-S. Lee; D. A. Hodges

类型
论文
作者
J. Doernberg; H.-S. Lee; D. A. Hodges
出版
IEEE Journal of Solid-State Circuits；UC Berkeley/MIT · 1984
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  1. Full-Speed Testing of A/D Converters，印刷第821–822页，§II.B–C