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半导体开放世界
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Selecting the Optimum Test Tones and Test Equipment for Successful High-Speed ADC Sinewave Testing

Maxim Integrated

类型
其他资料
作者
Maxim Integrated
出版
Analog Devices（原Maxim） · 2002
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  1. Selecting the Optimum Test Tones and Test Equipment for Successful High-Speed ADC Sinewave Testing，正文及Equipment and Set-Up Recommendations，原厂HTML（本次未核PDF/印刷页）