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半导体开放世界
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Noise in solid-state microstructures: A new perspective on individual defects, interface states and low-frequency (1/f) noise

M. J. Kirton; M. J. Uren

类型
其他资料
作者
M. J. Kirton; M. J. Uren
出版
Advances in Physics 38(4),367–468 · 1989
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  1. §2，扫描PDF第1页／印刷第367页

  2. §2，扫描PDF第4页／印刷第370页

  3. §2，扫描PDF第6页／印刷第372页

  4. §2，扫描PDF第7页／印刷第373页

  5. §2，扫描PDF第8页／印刷第374页

  6. §2，扫描PDF第9页／印刷第375页

  7. §2，扫描PDF第10页／印刷第376页