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半导体开放世界

IEEE Std 1149.1 (JTAG) Testability Primer (SSYA002D)

Texas Instruments

类型
厂商技术资料
作者
Texas Instruments
出版
Texas Instruments · 1997
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  1. Boundary-Scan Overview、图3-1；；PDF p.28，第 3-2 页

  2. Test Access Port and Operation、图3-3；；PDF p.31，第 3-5 页

  3. Update操作说明、图3-4；；PDF p.33，第 3-7 页

  4. Boundary-Scan Architecture；；PDF p.27，第 3-1 页

  5. Boundary-Scan Overview；；PDF p.28，第 3-2 页

  6. Capture/Shift操作说明；；PDF p.32，第 3-6 页

  7. Bypass Register；；PDF p.37，第 3-11 页

  8. Bypass Register；串行路径计数推导；；PDF p.37，第 3-11 页

  9. RUNBIST Instruction；；PDF p.39，第 3-13 页

  10. Boundary-Scan Architecture and IEEE Std1149.1；；PDF p.27，第 3-1 页