AEC-Q101 Rev. E: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification for Discrete Semiconductors

本站引用的位置3 处，涉及 4 个知识点

1. Rev. E，Table 2, Group A, A2 alternate H3TRB，pp.9–10

   高温高湿反向偏压可靠性

2. Rev. E，Table 2, Group B, B1–B2，pp.12–13

   高温栅极偏压可靠性 高温反向偏压可靠性

3. Rev. E，Appendix 7 Table A7.1，p.35

   温度冲击与高低温存储可靠性