DC and RF Characterization of NiSi Schottky Barrier MOSFETs with Dopant Segregation
Christoph Johannes Urban
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§3.1–3.2，表3.1及图3.2，第 21–23 页
§3.2，式3.1，第 22 页
§3.2，图3.2，第 23 页
§3.3，图3.5，第 25–26 页
Christoph Johannes Urban
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