跳到正文
半导体开放世界

彩图解入门半导体器件缺陷与失效分析技术精讲

上田修、山本秀和

类型
教材与专著
作者
上田修、山本秀和
语言
中文

本站引用的位置12 处，涉及 12 个知识点

  1. 第 1 章 §§1.1–1.3, 第 2 章 §2.1，第 2–19 页

  2. 第 1 章 §§1.3.1–1.3.2, 第 2 章 §§2.2–2.4，第 8–25 页

  3. 第 1 章 §§1.3.3–1.3.5，第 12–16 页

  4. 第 2 章 §§2.4.2–2.4.4，第 41–47 页

  5. 第 2 章 §§2.4.3, 2.5, 2.6.7–2.6.8，第 44–57 页

  6. 第 2 章 §2.4.1，第 26–40 页

  7. 第 3 章 §§3.1–3.2，第 65–80 页

  8. 第 3 章 §3.3，第 81–92 页

  9. 第 3 章 §3.4–§3.5.2，第 93–101 页

  10. 第 4 章 §§4.1–4.2，第 103–109 页

  11. 第 4 章 §§4.2–4.3，第 106–119 页

  12. 第 4 章 §§4.4–4.5，第 120–153 页